XED4900E變頻抗干擾介質損耗測試儀簡介：

　　1.本儀器用于現場抗干擾介損測量，或試驗室精密介損測量。

　　2.儀器為一體化結構，內置介損電橋、變頻電源、試驗變壓器和標準電容器等。

　　3.采用變頻抗干擾和傅立葉變換數字濾波技術，全自動智能化測量，強干擾下測量數據非常穩定。

　　4.測量結果由大屏幕液晶顯示，自帶微型打印機可打印輸出。
 

　　二，XED4900E變頻抗干擾介質損耗測試儀主要技術指標

　　       
 準確度：
Cx:±(讀數×1%+1pF)
tgδ:±(讀數×1%+0.00040)

抗干擾指標：
變頻抗干擾，在200%干擾下仍能達到上述準確度

電容量范圍：
內施高壓：3pF～60000pF/10kV 60pF～1μF/0.5kV
外施高壓：3pF～1.5μF/10kV 60pF～30μF/0.5kV
分辨率：*0.001pF，4位有效數字
 t gδ范圍：不限，分辨率0.001%，

電容、電感、電阻三種試品自動識別。
試驗電流范圍：10μA～5A

內施高壓：
設定電壓范圍：0.5～10kV
*大輸出電流：200mA
 升降壓方式：連續平滑調節
電壓精度：±(1.5%×讀數+10V)
 電壓分辨率：1V
試驗頻率：45、50、55單頻
頻率精度：±0.01Hz

外施高壓：
正接線時*大試驗電流1A，工頻或變頻40-70Hz
反接線時*大試驗電流10kV/1A，工頻或變頻40-70Hz

CVT自激法低壓輸出：
輸出電壓3～50V，輸出電流3～30A
測量時間：約40s，與測量方式有關
輸入電源：180V～270VAC，50Hz/60Hz±1%，市電或發電機供電
計算機接口：標準RS232接口
打印機： 煒煌A7熱敏微型打印機
 環境溫度：-10℃～50℃
相對濕度：<90%

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